詳細內容

Bruker M2 膜厚儀
所屬分類: 桌上型 Micro XRF
概述:

Bruker全新推出專為膜厚測量的新機種

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詳細介紹

布魯克的M2 BLIZZARD是最新推出的MicroX射線熒光光譜儀


提供無損材料組合物的分析和多層鍍層的厚度,在根據ASTM B568和DIN /ISO 3497.的規範下來研發開槽式設計, 針對較大面積的測試樣本或是印刷電路板最作最佳化的測量,同時搭載布魯克最新一代的XSpect Pro軟體。


主要特點


加大開槽配置“超大型”樣品台screenshot_pass_fail.jpg

時隙間隔20毫米

高度耐用的樣品盤
樣品定位
全新XSpect Pro軟件
全新的軟體擴展數據運算和參考標準管理
可配置的測量用戶界面和結果顯示
光譜自動保存至後期測量
結果自動重新處理與歸檔
用戶可定義的PASS /FAIL機制
波峰自動搜尋”的未知定性分析
包括標準的測量報告
可選配適用於工業環境耐用度的腳踏開關
無複雜的接線, 只使用單一插槽的USB

 screenshot_trendline.jpglayer_thickness_ranges.jpgXData-method-section.jpg


技術規格

M2 spec.jpg


 

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