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Bruker S4 TStar
所屬分類: 桌上型 TXRF
概述:

超微量元素分析的高性能全反射式X射線螢光光譜儀

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詳細介紹


快速和具有成本效益的全反射式螢光光譜分析儀

 

真正可替代ICP檢測的最佳分析解決方案

 

全反射式X射線螢光光譜儀 (TXRF) 是ISO公認的測量方式, 對各種樣品中的微量元素分析。S4 TStar 簡化了全反射式的操作流程,樣品的測量品質與保證。更佳的檢測下限, 以及搭載自動品質控制程式、具有獨特的軟體多功能性。


優勢

桌上型全反射式螢光光譜儀 S4 TStar 提供在ppb 範圍內的最低檢測極限, 純水檢測可達PPT等級

自動品質控制功能提供了資料的可靠性

樣品在不同載體上直接分析

針對工業常規分析進行了最佳化設計

高達90組樣品載台, 可同時間自動進樣, 分別設定測試時間或循環

更彈性的樣品種類測量

幾乎無額外的維護成本

搭配更高性能的檢測器

可選擇單一或是多靶材來因應各式不同種類的應用


 

 

S4_TStar_details_02.jpg

 

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