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Bruker M1 膜厚儀/膜厚標準片
所屬分類: 桌上型 Micro XRF
概述:

微聚焦X射線螢光光譜儀 元素分析、多層膜樣品膜厚非破壞分析

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詳細介紹

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M1 MISTRAL
採用X射線螢光技術的光譜儀,
可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素範圍:原子序數22號(鈦)以上的所有元素。分析的樣品類型:各種不同的材料,如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品。

 

在您希望的位置精確地測量

M1 MISTRAL 微焦斑X射線管,即使光斑尺寸小到100μm也可以產生足夠的射線強度,光斑大小取決於所使用的准直器。採用視頻顯微鏡進行準確定位,可以測量任何想測的位置。可選電腦控制的自動樣品台,並自動聚焦。


先進的分析軟體,提供最優的分析結果

不管您是根據標準來控制樣品的品質,還是測量完全未知樣品的組成,XSpect分析軟件都提供了合適的工具:對於塊狀樣品和多層膜樣品,進行有標樣定量和無標樣定量(基本參數法)。點擊一下滑鼠就可以自動進行重複測量。

 

使用簡單完全免維護

M1 MISTRAL 及其軟體的設計,讓操作人員只需經過簡單培訓即可使用。僅一個電源介面就可以運行儀器,採用空氣冷卻,無需消耗品。堅固的結構確保最高的穩定性,並且完全免維護。

 

測量鍍層樣品

採用X射線螢光技術的
M1 MISTRAL可以分析薄鍍層樣品,如印刷電路板、金屬或塑料件,包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件採用無標樣基本參數法,可以同時計算鍍層厚度和鍍層組成。使用標準樣品可以進一步提高定量分析的準確性。

 

珠寶及合金分析

M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品,不到1分鐘就可以確定其準確成分。


技術規格

M1_det_comp_table1.jpg

M1_det_comp_Spec_PC_SDD.jpg


mispec.jpg

 

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